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產品圖片 產品名稱/型號 產品描述
  • 小型低電壓透射電子顯微鏡 在大型的透射電子顯微鏡系統中,電子加速電壓一般在80-300kV左右。在如此高的電壓下,對于C,H,O,N等輕元素組成的樣品(如高分子和生物樣品等),只有經過重元素染色操作才可以得到較好的圖像對比度。而LVEM25采用的電子加速電壓范圍在10-25kV,較低的加速下,研究者不需要對樣品進行染色,即可得到很高的圖像對比度
  • 電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡 可以測量樣品的電導率和塞貝克系數的空間分布狀況,是研究熱電材料的利器。
  • 低溫強磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡 納米尺度下的磁學圖像對于研究磁性材料和超導樣品是非常重要的,利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系統,科學家可以在無以倫比的空間分辨率(20nm)和磁場敏感性下分析樣品磁性,工作溫度從極低溫、強磁場到室溫
  • 德國Panco公司電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡 應用領域 1、熱電材料,超導材料,燃料電池,導電陶瓷以及半導體材料的均勻度測量 2、測量功能梯度材料的梯度 3、觀察功能梯度材料的梯度效應 4、監測NTC/PTC材料的電阻漂移 5、導電固體中的傳導損耗 6、陰極材料的電導率損耗 7、GMR材料峰值溫度的降低,電阻率的變化 8、樣品的質量監控
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